Qualità:
![](/images/puzzle2/128/0.png)
L'articolo "半導体試験装置" nella Wikipedia in giapponese ha 3.7 punti per la qualità (al 1 agosto 2024).
L'articolo contiene 0 riferimenti e 5 sezioni.
Dalla creazione dell'articolo "半導体試験装置", il suo contenuto è stato scritto da 10 utenti registrati di Wikipedia in giapponese e modificato da 10 utenti registrati di Wikipedia in tutte le lingue.
L'articolo è citato 6 volte nella Wikipedia in giapponese e citato 6 volte in tutte le lingue.
Il grado di interesse degli autori più alto dal 2001:/p>
- Locale (giapponese): N. 24591 nel marzo 2016
- Globale: N. 720389 nel febbraio 2007
Il grado di popolarità più alto dal 2008:
- Locale (giapponese): N. 97126 nel febbraio 2012
- Globale: N. 688416 nel febbraio 2012
C'è 1 versione linguistica per questo articolo nel database WikiRank (delle 55 edizioni linguistiche di Wikipedia considerate).
La valutazione della qualità e della popolarità si basava sui dump di Wikipedia del 1 agosto 2024 (inclusa la cronologia delle revisioni e le visualizzazioni di pagina degli anni precedenti).